<output id="yl31k"></output><span id="yl31k"><i id="yl31k"></i></span>

    <table id="yl31k"></table>

  • 返回首頁 在線留言 聯系我們

    產品中心

    產品圖片 產品名稱/型號 產品描述
    • RESOChron激光原位(U-Th)/He雙定年系統通過光學干涉測量、X射線顯微層析或掃描電子顯微鏡測量剝蝕坑體積,RESOchron是一個集成的、原位的、計算機控制的微區分析儀器,激光剝蝕(U-Th)/He熱年代學可以獲得精確定義的、無缺陷的晶體體積,具有已知的表面積,從而克服了傳統的單顆粒晶體測量方法的兩個不確定性,然后利用Alphachron?技術進行全顆粒樣品的同位素分析。
    • RESOChron雙年代測試系統激光剝蝕(U-Th)/He熱年代學可以獲得精確定義的、無缺陷的晶體體積,具有已知的表面積,從而克服了傳統的單顆粒晶體測量方法的兩個不確定性,能夠對多個礦物顆粒進行快速的
    • J200 Femto iX LA 激光燒蝕(LA)是高度成功和久經考驗的J200 Femto LA儀器的下一步發展,J200 Femto LA儀器在世界上擁有大的安裝量,能運輸氣體控制,自動樣品高度調節,高分辨率3D樣品臺,創新的樣品池和LIBS(激光誘導擊穿光譜)附加功能,飛秒可以解決LA-ICP-MS分析的LA儀器。
    • J200 LA-LIBS 激光剝蝕-激光誘導擊穿光譜復合系統能夠快速而準確地識別復雜的LIBS發射峰,有助于分析人員有效地處理LIBS峰值并獲得定量結果,從而大大縮短數據分析時間,時間分辨ICP-MS信號也可以非常流暢,
    • J200飛秒激光剝蝕進樣系統(LA)的技術研發均為美國勞倫斯伯克利國家實驗室的科研人員,研發的理念就是使元素化學分析簡單快速化,測量結果標準化,分析過程綠色化,設備采用了一種自動調高傳感器,該傳感器的設計考慮到了樣品表面的形態變化
    • J200飛秒激光剝蝕進樣系統用戶在樣品圖像上可任意編輯激光采樣模式,包括光柵線狀、曲線、隨機點、任意尺寸網格或預先編制的模式, 長激光脈沖系統產生的樣品顆粒大(常大于數微米),駐留在輸送管中,導致運輸效率低
    共 12 條記錄,當前 2 / 2 頁  首頁  上一頁  下一頁  末頁  跳轉到第頁 
    網站首頁 公司簡介 產品中心 應用案例 技術支持 企業動態 聯系我們
    北京冠遠科技有限公司作為專業ASI廠家生產的ASI價格實惠歡迎致電了解ASI信息!
    北京冠遠科技有限公司 版權所有 總訪問量:250176
    電話:010-64834378 傳真:010-64834378 地址:北京市石景山區八大處高科技園區西井路3號3號樓7466室
    GoogleSitemap 技術支持:化工儀器網 ICP備案號:京ICP備12049026號-5 管理登陸
    聯系人: 宋經理
    電話:
    010-64834378
    13691365936
    點擊這里給我發消息
     
    亚洲精品无码AV人在线观看
    <output id="yl31k"></output><span id="yl31k"><i id="yl31k"></i></span>

    <table id="yl31k"></table>